扫描电镜是用来测什么的

品牌型号：sfmit扫描电镜

系统：DSF-60

扫描电镜是用来测样品表面材料的物质性能进行微观成像。

扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。

新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调；并且景深大、视野大、 成像立体效果好。

此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。

这个问题好像有点矛盾。

电子探针EPMA--是一种电子光学仪器，原理和扫描电镜相同，设计取向不是高分辨，主要是微区化学成分高精度分析，标配wds，eds，电子束束流大而且稳定度高，（达到万分之几的稳定度/小时），样品台精密度高，一般是自动样品台，样品室有换样隔离气室，因而造价极高。 扫描电镜，设计取向主要实现极限分辨率，尽量高的有效放大倍数。

我觉得你问的电子探针，好像是扫描探针SPM（原子力显微镜）

要想实现同位观察，一般吧SPM按照在扫描电镜样品室内，实现原子级别分辨率观察。

SEM TEM 都是主要用来分析形貌。他两相比较TEM的分辨率要高于SEM。TEM给出的是一个平面图，可以告诉你样品的形貌特这，尤其是孔材料用TEM分析最好。SEM是分析表面形貌结构的，给出的是立体图，对观察棒状，球状，等等材料材料有很好的视觉效果。EDS是分析成分的，一般是配套于TEM仪器上。它分析的是样品表面面某个小的部分的元素组成，不能代表样品整体组成。

扫描电镜的应用：

1利用表面形貌衬度原理（a）进行钢铁材料的断口分析，如穿晶解理断口﹑沿晶断口﹑氢脆沿晶断口﹑韧窝断口；(b)进行钢铁材料样品表面形貌分析；(c)进行钢铁材料金相组织观察分析。

2利用原子序数衬度原理，对钢铁材料进行定性的成分分析。

电子探针——X射线能谱仪的应用：

(1)定点成分分析：电子束固定在钢铁需要分析的微区上,能谱仪收集X射线信号，几分钟内即可直接得到微区内全部元素的谱线。

(2)成分线分布分析：将谱仪固定在钢铁材料所要测量的某一元素特征X射线信号(波长或能量)的位置上；使电子束沿着指定的路径作直线轨迹扫描，便可得这一元素沿该直线的浓度分布曲线。

(3)成分面分布分析：电子束在钢铁材料样品表面作光栅扫描，把谱仪固定在某一元素特征X射线信号的位置，接收信号可得该元素的面分布图像。

做铝合金力学性能需要电镜吗？你既然只做力学性能，而力学性能指标无非就是进行硬度试验以测定硬度、拉伸试验以测定各项强度指标、塑性指标，冲击试验以测定韧性指标，磨损试验测定耐磨性指标，疲劳试验以测定使用寿命等等，好像没有哪一个指标需要电镜啊？电镜只有做断口分析、失效分析需要看组织的和断口形貌以判断断裂类型的时候才使用，而观察组织及弥散相分布用金相显微镜就足够了，看来你还是先富起来的一部分人，有钱没有地方花去了，观察组织居然用扫描电镜，干脆你把透射电镜、俄歇能谱仪、电子探针之类的全用上吧，反正你有的是钱。

　　要求：

　1、样品必须是固体，且做到无毒、无放射性。

　2、样品可以是块状、片状、纤维状、颗粒或粉末状，无论是什么样的样品都不能是有机挥发物和含有水分，含有水分的样品放在镜筒内能使图像模糊，甚至根本不能成像，也可造成镜筒污染，因此，应先烘干样品中的水分。

　3、无论是块状样品,还是粉末颗粒状样品，其化学物理性质要稳定，在高真空中的电子束照射下，都要能保持成分稳定和形态不变。

　4、表面受到污染的样品，在不破坏样品表面结构的前提下，进行适当清洗、烘干。

透射电镜和扫描电镜的区别：结构不同、工作原理不同、对样品的要求不同、操作不同、放大倍数不同、用途不同等。透射电镜(TEM)可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜(SEM)来说，限制在1-2百万倍之间。

透射电镜和扫描电镜的区别是什么

扫描电镜(SEM)使用一组特定的线圈以光栅样式扫描样品并收集散射的电子。而透射电镜(TEM)是使用透射电子，收集透过样品的电子。

透射式电镜常用于观察那些用普通显微镜所不能分辨的细微物质结构，而扫描电镜主要用于观察固体表面的形貌和物质成分分析。

透射式电镜的电子由钨丝热阴极发射出，通过第一、二两个聚光镜使电子束聚焦。扫描电镜的电子束仅以聚焦的方式呈现在样本的一小块地方。

操作环境

品牌型号：通用

系统版本：通用

扫描电镜中的WD参数是工作距离，样品成像表面到物镜的距离。

介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

扫描电镜的优点是：

①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；

②有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；

③试样制备简单。 目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析，因此它是当今十分有用的科学研究仪器。

扩展资料

扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。

当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时可产生电子-空穴对、晶格振动（声子)、电子振荡（等离子体）。

从数量上看，弹性背反射电子远比非弹性背反射电子所占的份额多。 背反射电子的产生范围在100nm-1mm深度。

背反射电子产额和二次电子产额与原子序数的关系背反射电子束成像分辨率一般为50-200nm（与电子束斑直径相当）。背反射电子的产额随原子序数的增加而增加，所以，利用背反射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征，也可以用来显示原子序数衬度，定性进行成分分析。