越级挑战 尼康D3x佳能5D MARKII画质PK

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IT168 评测尼康D3x和佳能EOS 5D Mark II虽然都是全画幅的单反相机，但并不是一个级别的产品。D3x是尼康旗下的顶级旗舰机皇，其凭借出众的画质表现及强大的专业性能成为许多专业人员及影楼摄影师的工作用机。而EOS 5D Mark II虽然不是佳能的最顶级单反产品，但是自上市以来表现非常强劲，同样受到了众多专业级用户的欢迎，更被用于拍摄商业**，其出色的画质表现可见一斑。那么EOS 5D Mark II是否能在画质上挑战尼康的机皇D3x，D3x又能否成功捍卫自己的宝座？答案即将揭晓！

越级挑战尼康 D3x佳能EOS 5D Mark II画质对决

相信无论是“尼粉”还是“佳友”对这两款产品应该都已经非常了解了，我们将通过全面的测试对这两款专业单反产品的画质表现进行一次对决（两款产品均配合50mm F14标准镜头进行测试），大战正式揭幕之前，我们先简单的回顾一下两款产品的一些基本参数。

▲尼康顶级旗舰机皇D3x基本特性

尼康D3x采用的是2450万像素尼康FX格式36mm×24mm英寸的CMOS传感器，EXPEED数码影像处理系统，拥有51个对焦点，支持5张/秒的全像素高速连拍。尼康D3x的推出使尼康的顶级产品阵营形成了两条各有侧重的产品线，尼康D3s主打新闻及运动摄影，而D3x则用于拍摄大幅面的棚内商业摄影。

▲佳能EOS 5D Mark II基本特性

佳能EOS 5D Mark II采用的是2110万像素36mm×24mm英寸的全画幅CMOS传感器，DIGIC 4数字影像处理器，拥有9个自动对焦点加6个辅助对焦点，支持4张/秒全像素高速连拍。佳能EOS 5D Mark II同样被许多专业摄影师用于影楼摄影及商业摄影。

"尼康D3x/佳能EOS 5D Mark II

基本参数表

"基本参数

"尼康 D3x

佳能EOS 5D Mark II

"传感器类型

"CMOS

"CMOS

"传感器尺寸

"36mm×24mm

"36mm×24mm

"有效像素数

"2450万

"2110万

"最高分辨率

"6048×4032

"5616×3744

目前售价

58000元

17200元

尼康D3x/佳能EOS 5D Mark II基本参数表

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锐度大战D3x为王

尼康D3x与佳能EOS 5DMarkII均配合了各自的50mm F14标准镜头进行锐度测试，在同一测试环境中拍摄ISO12233两倍分辨率标板，以下是Imatest根据得出的数据。

▲尼康D3X/佳能EOS 5DMarkII最佳分辨率对比

▲尼康D3X/佳能EOS 5DMarkII最佳分辨率对比

从尼康D3x与佳能EOS 5DMarkII（两款产品均配合50mm F14标准镜头进行测试）的分辨率数值的对比图表中可以看到，尼康D3x的最佳分辨率出现在F56表现数值为3529LW/PH，尼康佳能EOS 5DMark II的最佳分辨率表现也出现在F56表现数值为3234LW/PH。尼康D3x中心位置的水平分辨率表现比佳能EOS 5DMark II高了近300LW/PH，而垂直分辨率并没有太大的差别。再来看边缘位置成像分辨率的表现，尼康D3x边缘位置的分辨率表现明显高于佳能EOS 5DMarkII。下方为尼康D3x与佳能EOS 5DMarkII分辨率实测样本100%截图，从中可进一步观察两款产品在分辨率表现上的差异。

▲尼康D3X/佳能EOS 5DMarkII实拍分辨率样本对比图示

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尼康D3x清晰度更高

我们分别使用尼康D3x与佳能EOS 5DMarkII（两款产品均配合50mm F14标准镜头进行测试）的ISO100档位拍摄实际样本，并对其四个部分进行100%截取，来观察两款产品在细节方面的表现。

▲

图为实拍样板柜清晰度100%截取位置示意图

EOS 5DMarkII▲快门：1秒/光圈：F8/感光度：ISO100/白平衡：自动/35mm等效焦距：50mm

D3X▲

快门：2秒/光圈：F8/感光度：ISO50/白平衡：自动/35mm等效焦距：50mm

图为两款产品清晰度100%截图

从上面的对比截图中可以看到，尼康D3x的细节表现力要比佳能EOS 5DMarkII更细腻一些，尤其是第二部分的人像截图中最为明显，但是我们也要知道，尼康D3x的有效像素为2450万，而佳能EOS 5DMarkII仅为2110万。

色彩及清晰度对比展示

在针对色彩表现的对比测试中，我们使用两款产品（均配合50mm F14标准镜头进行测试）在ISO 100的感光度下拍摄X-rite ColorChecker SG色彩测试标板，然后进行色彩分析，可以获得成像色彩误差数据。

▲佳能EOS 5DMarkII

▲尼康D3x

两款产品色彩表现测试结果对比展示

本测试图反映了佳能EOS 5D MARK II及尼康D3x，在配合各自的50mm F14标准定焦镜头的实际成像色彩值与理想值之间的差异。图中被灰色线包围的部分是所测相机的色域范围，色彩误差图中，Lab色域坐标里的方块表示拍摄对象的理想色彩（标准色彩），圆圈则表示所测试相机的成像色彩。佳能EOS 5D MARK II与EF 50mm F14的组合超出sRGB色域23%，尼康D3x与AF-S 50mm F14G的组合超出sRGB色域175%。

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佳能EOS 5DMarkII控噪能力更强

在噪点控制能力测试中，我们采用相同的设置在同一位置拍摄各档位感光度的样板柜样张，并对其进行100%截图，来观察尼康D3x与佳能EOS 5DMarkII（两款产品均配合50mm F14标准镜头进行测试）各档位的信噪比表现。我们不仅比较其在画面中所呈现的颗粒感，同时也要考虑是否存在色彩漂移及是否能够很好的保留画面细节。对比图示中的彩色条代表的是每款产品噪点表现的可接受程度，绿色为优秀，**为对画面产生了一定的影响但可接受，越趋近于红色则说明该档位无特殊情况，否则不建议使用。

▲图为噪点控噪能力测试实拍样板柜100%截取位置示意图

佳能EOS 5DMarkII与尼康D3x实拍样本柜样张100%对比截图

佳能EOS 5DMarkII的感光度区间为ISO50-25600，尼康D3x的感光度区间为ISO50-6400，两款产品在低感光度档位的画面表现都很细腻。EOS 5D MARK II和D3x都从ISO400时开始出现轻微锐度下降，相比之下D3x的截图中可以观察到轻微的噪点。

至ISO800时D3x所呈现噪点的颗粒变得明显，而EOS 5D Mark II的表现相对较细腻。至ISO1600时EOS 5D Mark II的画面中才观察到轻微的噪点，而此时D3X所呈现的颗粒感已经非常明显。ISO3200时EOS 5D Mark II的噪点略微增多，但是过渡均匀并没有明显的颗粒感。而此档位下D3x的噪点则持续增多，已经影响了画面细节的表现，已基本不可用。

D3X在其最高感光度档位ISO6400下的切片中不仅存在非常明显的色块，并且产生了色彩漂移。在此档位下的EOS 5D Mark II的噪点变得明显，但锐度和细节依然有所保留，表现出了出色的高感控制能力。EOS 5D Mark II的感光度升至ISO12800时，EOS 5D Mark II的切片中出现了色彩漂移，锐度和细节出现明显下降，至于ISO25600，此档除非情况紧急否则不建议使用。

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IT168评测中心观点

虽然D3x和EOS 5DMarkII并不是同一个级别的产品，但都是商业摄影和影棚常备的专业数码相机产品，本次我们抛开其它的因素不谈，仅对这两款产品的画质表现作出最终的评价。通过对尼康D3x与佳能EOS 5DMarkII全面的画质对比，我们可以看出，两款产品在成像的表现上可以说是各有所长。尼康D3x的成像分辨率要高于佳能EOS 5DMarkII，因此在细节的表现力上要好于佳能EOS 5DMarkII，在拍摄头发或者细丝线等对细节表现力要求比较高的画面时，占有一定的优势。而佳能EOS 5DMarkII的控制噪点的能力要更好一些，在测试中虽然ISO400以下档位两款产品不分仲伯，但是在高感的成像画面细节表现上佳能EOS 5DMarkII完胜尼康D3x，更适合拍摄突出画面细腻质感的题材。

"尼康 D3x/佳能EOS 5D MarkII

胜负表

"型号及售价

分辨率表现清晰度表现控噪表现

"尼康 D3x

（58000元）

胜

胜

"负

"佳能EOS5D MarkII

（17200元）

"负

"负

胜

尼康 D3x/佳能 5D Mark II胜负表

▲尼康D3x锐度更高，细节表现出众

▲佳能EOS 5D Mark II控噪能力更强，画面更有质感

为防止EOS现象发生，而导致大电流与大电压Damage IC。建议采用如下措施：

初步、检查

第一种运算放大器OP1遭到一个大型的EOS事件,其许多电路部件受到损坏。第二种运算放大器OP2的情形是EOS事件只损坏了一只薄膜电阻器。两个运算放大器都有一个或多个引脚无法进行连续性测试—这是器件失效的第一个征兆。此外,OP1的其它几个引脚呈现功能退化。无论OP1还是OP2都通不过功能测试。在运行电测试后,我们打开每一个运算放大器的外封装,对失效器件进行了检查,从外观上将失效器件与有效器件进行对比可帮确定失效位置。

OP1运算放大器呈现多处地方受损(图1),损坏大部分与器件的输出、负输入和正电源引脚关联。运算放大器输出端上的保险烧断的金属线路证明,运算放大器在EOS事件出现时接到了大量的能量。

相反,OP2器件没显示常规的EOS征兆---异常的金属印迹和灼烧标记。仅有一只电阻可疑,显示颜色略有不同。基于此点得出结论,EOS事件没造成失效,可能是由NiCr电阻器遭氧化或侵蚀所致。但是,同一区域的其它电阻器没显示类似的色变迹象,圆片制造上的问题不可能只对单一个电阻器造成了影响。此外我们还观察到没有其它腐蚀存在,也没发现会把腐蚀性化学品带给电阻器的钝化氧化物缺陷。经分析我们发现是连接着OP2负输入端的开路电阻(图3)造成了器件工作的不正常。当这一电阻断开时,它切断了反馈通路并造成运算放大器输出摆高,不管施加的输入信号如何变化都停留在高电位。对损坏电阻进行探查显示,输入端印迹正常,表示EOS事件没有损坏运算放大器输入通路中的其它电路。

对原因追根溯源

在知道了造成两种失效的损坏之后,我们还得对原因进行追根溯源。第一步是辨别EOS事件的原因,这涉及到从失效报告人处取得的信息。因为我们需要知道发生失效时哪些电路和线路板配置在使用,在最后一次得知部件正常工作的时刻测试条件是什么,以及在经过部件功能正常情况下的最后一次测试或使用之后到底发生了什么样的事件。包含每一种运算放大器的电路示意图给出的运算放大器与所有其它元件以及“外界”信号间的连接。

查看在每种运算放大器上观察到的损坏图案,基于这些图案以及对每种运算放大器周边电路元件的了解,获到了有关EOS事件的来源和强度的信息,如通过大阻抗的外部信号过小可能成为EOS事件的能量供源。阻抗使电流量变小,具有某种保护功能。由电源及其它器件的引脚直接与运算放大器相连虽会产生低阻抗,却因而更容易向半导体器件传导EOS能量。

含有OP1的电路将器件当作一只一致性增益非反相放大器使用,其输出与线路板上一根电缆导线连接。在这种结构中,运算放大器的输出直接与其负输入连接。针对放大器的输入信号直接与来自线路板电源的OP1正输入连接。

基于我们的观察以及运算放大器的应用,认为发生损坏是因为对运算放大器的输出脚施加了正电压。OP1的局部示意图(图4)显示出电流从运算放大器的输出脚流经Q70及Q75到达V+线路的路径。Q70是一个大的输出晶体管,可以应付EOS事件的功率,但Q75不能,正如我们在Q75的基极-发射结处发现铝“短路”所反映的一样。这种小的晶体管在不短路的情况下是不能消掉EOS事件的大量能量的。在电流达到临界电平后,通向焊盘(bond pad)一端的金属输出线路烧断,如图2所示一大段线路烧坏。烧掉如此大段的金属线需要短时间内的大电流脉冲(1~2A

)。

OP1还出现了其它损坏。当金属输出线路断开时,电流迅速降为0,电压迅速增加。由于运算放大器的输出与其负输入直接相接,因此在运算放大器Input连接的周围观察到了由EOS电压脉冲造成的损坏(图1)。在我看来,是EOS信号源的寄生电感造成了输出电压的迅速升高。

看起来OP2比OP1损坏轻---仅有一个开路NiCr电阻,这使得难于判断引起器件失效的原因。电测试表明与NiCr电阻器相连的其它元件工作正常。该电阻器连于焊盘和输入级之间。对于由焊盘到负电源的正电压存在一个最低击穿路径。如果电荷采取了不同的路径,理应出现其它电路损坏。由此,EOS能量脉冲必是进入了负输入引脚。

最低电阻击穿路径存在于负输入和负电源线之间,于是EOS电流便流经了这条线路。而由于除该电阻器以外我们没看到金属线或其它元件受损,因此得到结论,这一EOS事件只产生了少量的能量。还有,如果是慢脉冲理应损坏NiCr电阻器的中心而非损坏全部电阻区域。因此,我们认定EOS事件的出现十分迅捷,有一个快速上升时间。

寻查工作的下一步是通过试验试再现失效过程。我们对造成损坏的EOS事件类型进行了某些假设。例如,假定测试导线能提供充足的电感量(~2mH)造成电压尖峰,这样在测试电路中就不用放置额外的电感了。我们还对电压和电流水平、提供给电路的能量以及EOS事件的持续时间进行了一些猜测。

对OP1器件进行测试,我们用一台Tektronix曲线跟踪仪提供25V脉冲,持续时间范围10~50ms。3英尺

的测试导线将曲线跟踪仪连于DUT。在这些条件下,测试部件没产生像我们在OP1器件中观察到的那样失效。将电压设定到350V、使用串联电阻将峰值电流限制在25 A

进行第二次尝试,所产生的损坏与在OP1中见到的类似。脉冲不仅损坏了与OP1相同的电路区域,而且我们还观察到对测试部件更为严重的损坏。降低电压水平或者串联电阻增大可能会使损坏程度减小,但我们觉得我们已找到了损坏的原因,因此我们没做进一步的试验。

通过我们的测试结果,用户找到了可能的失效原因---测试台的非接地测试电缆存在失效。非接地电缆能充电到极高的电压,且当与线路板相连时,它将放电到线路板电路中,损坏运算放大器和其它元件。

增加更多能量

OP2的失效源显得更难以查明。首先,我们在测试器件上施加一电压给负输入并增大这一电压直到运算放大的输入电阻器开路。运算放大器负输入上的+17V信号造成了电阻器的烧毁,但这似乎与OP2中的失效电阻有所不同。

并非显示整个电阻完全失效,测试器件中的电阻器显示跨电阻有一条线。我们决定施加更多的能量使电阻器完全烧断,且快速施加能量以防电阻器热损。

曲线跟踪仪提供的脉冲太慢不能使整个电阻器迅速受热,于是我们尝试使用传输线脉冲(TLP)测试仪。这种类型的测试仪将一定长度的同轴电缆充电至预置电压,然后将电缆放电到DUT中。TLP测试仪能产生一种上升时间小于2 ns、脉宽可变的矩形电流脉冲。当我们给电缆充电充到250V时,它产生了05A

的峰值电流,在55

ns内烧坏了运算放大器的电阻器。这种脉冲测试的结果与在OP2中所见到的损坏相吻合。

这一结果虽不意味着来自电缆组件的电量造成了部件的损坏,但它的确预示出,具有迅速上升时间的快速脉冲,以及约05A

的电流,会造成类似的损坏。用户进一步的工作查到了一种可能诱因是紧挨着测板的示波器。

用户发现示波器辐射产生一种高能电场,从而在近邻部件上感应电荷。当技师们用测试仪器接触线路板时,产生了放电。采取适当的屏蔽手段移去电荷,就消除了在测板运算放大器的失效问题。

室友从美国旅游回来带回来6个不一样口味的EOS唇膏，分析了一下这6个的特征。都是没有背板的，一个塑料塑封的，估计应该也有有背板的。“o”绝对是上下开口的！手感特别好，里面唇膏的味道特别清淡，不是香精加出来的味道，而是淡淡的精华幽香。有人反映说里面有杂质，其实里面会有点像所谓的杂质一样的东西，有些多有些少，这个是里面精华结晶到一起的反应，因为EOS是不添加防腐剂的产品。